[SOLVER Сканирующий Зондовый Микроскоп]

[Image] Топография поверхности высоко-ориентированного пиролитического графита. Наблюдается линейный, протяженый дефект и картина муара с переодичностью 2.4 нм. Скан размером 48 x 48 нм.

Условия измерения
Дата22-Дек-1995
ПриборP4-SPM-MDT (18 разрядный ЦАП, сканер 7мкм x 7мкм)
МодаСТМ Топография
ЗондPtIr игла

Измерено В.Жижимонтов, Научно Исследовательский Институт Физических Проблем & НТ-МДТ, Москва, Россия.

Не опубликовано.

Copyright © 1996, НТ-МДТ
Обратная связь bykovav@ntmdt.zgrad.ru