![[SOLVER Сканирующий Зондовый Микроскоп]](/label/solverru.gif) | |||||||||||
![[Image]](/galer/crystal/hopg3.jpg)
|
На скане тотографии чистой поверхности высоко-ориентированного пиролитического графита виден ряд точечных дефектов. Проявляется эфект многовершинность иглы СТМ - зонда. Скан размером 82 x 120 нм.
Измерено В.Жижимонтов и А.Беляевым, Научно Исследовательский Институт Физических Проблем & НТ-МДТ, Москва, Россия. Не опубликовано. | ||||||||||
| Copyright © 1996, НТ-МДТ Обратная связь bykovav@ntmdt.zgrad.ru | |||||||||||