Условия измерения
Дата	7-Июл-1995
Прибор	P4-SPM-MDT (18 разрядный ЦАП, сканер 7мкм x 7мкм)
Мода	СТМ Спектроскопия
Зонд	PtIr игла

Измерено М.Еремченко, Научно Исследовательский Институт Физических Проблем & НТ-МДТ, Москва, Россия.

V.A.Fedirko, V.A.Bykov and M.D.Eremtchenko. Tunnel microscopy investigation of fullerene monolayers. Fresinius J. Anal. Chem.. V355, N 5-6, pp. 707-710, 1996.