НТ-МДТ Монослойные ступеньки на Si(111)

ССМ изображение монослойных ступенек на поверхности Si(111). Размер скана 572x651 нм.

Условия измерения

Дата 25-Янв-1997

Прибор P4-SPM-MDT (16 разрядный ЦАП, сканер 14мкм x 14мкм)

Мода ССМ контактная мода

Зонд Кантилевер Si₃N₄ с радиусом кривизны 20нм

Измерено Н.Соколовым, Физико-Технический Институт им. А.Ф.Иоффе, РАН, Санкт-Петербург, Россия.

Не опубликовано.