Обратная связь в SNOM - моде поддерживается применением оптической системы регистрации состояния колебания заостренного световолокна. При этом электронный блок микроскопа позволяет регистрировать амплитуду и фазу колебания зонда, поддерживая обратную связь или только по амплитуде или по проекции амплитуды колебания зонда на вектор возбуждающего колебания (Shear force (ShF) микроскоп). Одновременно можно регистрировать оптический сигнал, регистрируя посредством ФЭУ или фотодиода свет из оптоволокна синхронно со сканированием. Разрешающая способность SNOM определяется радиусом кривизны острия световода и амплитудой колебания зонда. По этому разрешение у ShF SNOM анизотропно относительно волнового вектора колебаний. Применение сильно заостренных световодов обычно ограничивается эмиссионной способностью поверхности и возможностями регистрирующей системы. Имеются данные (Topometrics) о достижении разрешения до 10 нм.