![[SOLVER Сканирующий Зондовый Микроскоп]](/label/solverru.gif)
| Общая информация Технические параметры Электроника прибора |
|  |
| Модификация полимерной пленки методом резонансной СЗМ микроскопии. Если предположить, что каждая воронка это один бит, то предельная плотность записи информации возможна до 40 Гбайт/см2 |
 | Перенос полутонового изображения методом резонансной СЗМ модификации поликарбонатной пленки на кремнии. |
| Атомарное изображение высоко-ориентированного пиролитического графита. |  |
 | Атомарные ступеньки на высоко-ориентированном пиролитическом графите. |
| Изображение пористого кремния. |  |
|